Ｌ／Ｓ 8μm・6μm・（4μm）
インスペックは、リードフレームから液晶用COF、さらにはCSPやFC等、半導体パッケージの検査分野で数多くの検査装置を開発し供給してまいりました。これらの実績で積み重ねた高度な検査技術を余す所なく投入し、全く新しい発想にもとづく画像システムを搭載した、次世代まで対応可能な最新の基板AOIシリーズを展開してまいります。
進化を続ける精密基板メーカーの皆様に、必ずやご期待に添えるものと確信いたします。
透過・反射照明システム
高精度フォーカストラッキング
サブピクセル測長処理
アルゴリズム採用
高速レスポンスとクリアな撮像
AOIの切り出し画像と比較可能
徹底した操作性重視
基板AOI SX2000
ｶﾞﾗｽﾏｽｸAOI SX6000G
超高速撮像システムの搭載で圧倒的な処理速度を実現！
ﾍﾞﾘﾌｧｲｽﾃｰｼｮﾝ VP1000
基板AOI SX5300
基板AOI SX3300
Ｌ／Ｓ 120μm・100μm・75μm
測長アルゴリズムと、超高速撮像システムの搭載で、高精度と高速性を両立させました。
Copylight(C) inspec Inc 2010, ALL Rights Reserved.
Ｌ／Ｓ 9μm・8μm・6μm・（4μm）
Ｌ／Ｓ 50μm・30μm・20μm・（15μm）