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製品一覧

現在の情報社会を支えるIT産業。その基幹部品である半導体はIT産業に欠かせない製品の性能を決定づけるキーパーツとしてますます重要性を高めています。当社は、半導体に欠かせないパッケージの検査装置メーカーとして、加速度的に高密度化が進む製品に対応すべく、常に最高の性能を持つシステムを提供し、多くの企業から信頼をいただいております。

テープ検査装置 TR2000 TABテープ検査機
特徴
・分解能3ミクロンの高精度検査
・独自の高速画像処理エンジンにより時間65mの高速処理
・柔軟なアルゴリズムでテープの変形に追従
主な仕様
・分解能:3μm/pixel
・カメラ:オリジナル8800bit 120MHz ラインCCD
・レンズ:高解像度カスタムレンズ
・処理速度:65m/時間
液晶TFTアレイ検査装置FP3000
主な仕様
・未公表
リードフレーム検査装置LF2000 精密リードフレーム検査機
精密リードフレーム検査機

特徴
・8000bitラインCCDによる高解像度処理
・カスタム照明によりメッキの高精度検査
・「inspec2」搭載で高感度、低過検出
・精密スキャンユニットで安定搬送

主な仕様
・分解能:8μm/pixcel
・カメラ:8000bit80MHz
・検査内容:LFの変形、メッキ不良、表面欠陥
・処理速度:約10秒/フレーム

BGA検査装置
精密リードフレーム検査機

特徴
・8000bitラインCCDによる高解像度処理
・10μmの超ファインパターンまで検査可能
・「inspec2」搭載で高感度、低過検出
・精密スキャンユニットで安定搬送

主な仕様
・分解能:3μm/pixcel
・カメラ:8000bit80MHz
・検査内容:パターンのオープン、ショート、シミ等
・処理速度:約0.5秒/ピース(40ピースフレーム)


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