技術紹介 TECHNOLOGY

パターン検査

測長検査システム

測長検査システムではすべての配線を”計測する”ことで出来上がり傾向を認識し、検出したい欠陥のみ抽出することができます。

測長検査システムのメリット

形状比較検査では製造上のバラツキを検査しないことで成り立ちます。測長検査システムではすべてを”測る”ことで配線の出来上がり傾向を認識し、検出したい結果のみ抽出することができます。

サブピクセル演算

独自のサブピクセル演算により撮像分解能以下の計測を可能とします。

過剰な分解能は必要ありません。

測定値出力

配線の計測値を表示、出力することができるため、検査だけではなく生産データとしてご活用いただくことができます。

穴検査

全穴計測検査

測長検査システムを使用することで、すべての穴径を計測することが可能です。放射線状に計測して得られる穴径情報から形状を認識し、検査します。

径大
径小
ズレ
偏平度異常(変形)
偏平度異常(スミア残り)
Via無し

穴形状への柔軟な対応

スルーホール、レーザービアなど穴により見え方が異なりますがいずれにも対応した検査ができます。レーザービアはトップとボトム、両方の計測が可能です。

測定値出力

穴の計測値を表示、出力することができるため、検査だけではなく生産データとしてご活用いただくことができます。

パターンマッチング検査

グレースケールマッチング

グレースケールでの輝度差比較によるパターンマッチングアルゴリズムを備えます。配線、ホール部分は測長検査システム、その他の部位はパターンマッチングが適用され、この2つの並列処理により検査を行ないます。

Pentagon System

独自の欠陥スクリーニングアルゴリズムによる自動欠陥分類

従来の検査

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